一六XTU-50A X射线荧光光谱仪 镀层测厚仪 膜厚测试仪

               400-850-1617

仪器简介

       XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。

   搭配微聚焦射线管和先进的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。

   检测78种元素镀层·0.005um检出限·最小测量面积0.002mm²·最深凹槽可达90mm。

   外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都没有难度，让操作人员轻松自如。

 

 

       

应用领域

   线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

   镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

   手表、精密仪表制造行业

   钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

   汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

   卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

   电镀液的金属阳离子检测

       

性能优势：

   下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

   无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm.

   微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm²的样品，可测试各微小的部件。

   高效率的接收器：即使测试0.01mm²以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

   精密微型滑轨：快速精准定位样品。

   EFP先进算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。 

 

项       目	参        数
测量元素范围	Cl（17）-U（92）
涂镀层分析范围	各种元素及有机物
分析软件	EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析
软件操作	人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误
X射线装置	W靶微聚焦加强型射线管
准直器	Ø 0.05 mm  ；Ø 0.1 mm；Ø 0.2 mm；Ø 0.5 mm；准直器任意选择一种
最近测距光斑扩散度	10
测量距离	具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)
样品观察	1/2.5彩色CCD，变焦功能
对焦方式	高敏感镜头，手动对焦
放大倍数	光学38-46X，数字放大40-200倍
样品台尺寸	500mm*360mm
移动方式	高精密XY手动滑轨
可移动范围	50mm*50mm
随机标准片	十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件	联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱

 

搜好货厂家江苏一六仪器有限公司为您提供一六XTU-50A X射线荧光光谱仪 镀层测厚仪 膜厚测试仪的详细产品价格、产品图片等产品介绍信息，您可以直接联系厂家获取一六XTU-50A X射线荧光光谱仪 镀层测厚仪 膜厚测试仪的具体资料，联系时请说明是在搜好货网看到的。