天星ED-300涡流测厚仪 ED300膜厚仪 铝材氧化膜测厚仪 涂层测厚仪

测量范围：     0～500μm测量精度：     0～50μm：±1μm；                    50～500μm：±2%分 辨 率：     0～50μm：0.1μm、                    50～500μm：1μm；                    0～500μm：1μm（可选）使用温度：     5～45℃外形尺寸：     150mm×80mm×30mm重      量：     260g

标准配置

主机            1台探头            1支基体            1块（6063合金）校正箔片      1片（约50μm，附检测报告）使用说明书   1份合格证         1份保修单         1份   手提式仪器箱1个

可选附件

备用探头基体校正箔片（约50μm）

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