Langer MFA 02微型近场探头组 Langer MFA02探头组 现货 低价 促销

 LANGER EMV-Technik为德国着名近场探棒(Near Field Probe)制造公司。它针对现代电子产品愈做愈精细，同时开发出直径2mm的近场探棒(Near Field Probe)，再加上高感度及高办识率；为现在修改(Debug)产品，提供一个很好的解决工具。

修改测试可用于产品研发的任何阶段。诊断测试是不需要遵守任何的标准和规范的测试方法，只要能找出干扰源并了解干扰的频率和能量即可。

修改诊断量测设备是由探棒、前置放大器和一台频谱分析仪即可。

所有的电磁干扰都可分为两种分量∶一个是磁场分量、一个是电场分量。这两个分量的方向相互垂直。电磁兼容修改一般是用近场探棒(Near Field Probe)进行近场量测。所以，可用电场探棒和磁场探棒分别量测电场源和磁场源。可根据电磁波的传播方向确定辐射源的位置和辐射强度，从而找出辐射大的零件或电路。

该微型探头组的两个微探头可以测量磁场频率在1GHz以内的磁场，例如在信号线、SMD-元器件（0603-0201）以及集成电路引脚上的磁场。该MFA探头可以手持操作。 在探头上集成有一个放大器。放大器的电源（9V，100mA）由BT 706型偏置器提供。偏置器的阻抗为50欧姆。近场探头通过706型偏置器与频谱分析仪或者示波器相连。 Langer 电磁兼容科技有限公司的近场探头提供配套的修正曲线。利用修正曲线可以将探头输出减压换算为相应的磁场或电路中的电流。

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