OXFORD-95M 牛津来料检测铜箔厚度测厚仪

OXFORD-95M 牛津来料检测铜箔厚度测厚仪 

优势：

1、牛津仪器公司推出的OXFORD-95M是一款为测试铜箔厚度设计的电池供电的手持式测厚仪，它能够在一秒钟之内测量印刷电路板上的铜箔厚度，范围从1/8 到4.0 盎司/ 平方英尺（5-140 微米）。

  2、 OXFORD-95M由工厂调校，不需要任何标准片。它使用方便，只需将产品独有的软探针放到铜箔的表面就可以看到关于铜箔厚度的指示。

  3、避免高昂的回收再生的成本 - 快速精确地鉴定特定铜箔厚度一款行业认可的坚固易用且价格合理的手持式测厚仪，通过厚度测量分拣铜箔薄片非破坏性检测。

  4、 新型OXFORD-95M配有超软接触式探针，避免铜箔表面刮伤。

  5、 仅有的能测量全范围铜箔厚度的经济实用的便携式测厚仪。

OXFORD-95M 牛津来料检测铜箔厚度测厚仪 

        牛津仪器公司提供可靠的高一般的测试方法，例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的" 升离效应" 导致的底材效应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都无法达到对金属性镀层厚度的精确测量。

        牛津仪器将最新的基于相位的电涡流技术应用到OXFORD-243E,使其达到了±3%以内（对比标准片）的准确度和0.3% 以内的精确度。牛津仪器对电涡流技术的独特应用，将底材效应最小化，使得测量精准且不受零件的几何形状影响。另外，仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。

   ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计，此单探头可以测量铁质底材上几乎所有金属覆层，例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。

 OXFORD-95M 牛津来料检测铜箔厚度测厚仪 

涂层测厚仪·产品list

• 涂层测厚仪TT210；

• 涂层测厚仪TT220；

• 涂层测厚仪TT220G；

• 涂层测厚仪TT230；

• 涂层测厚仪TT230G；

• 涂层测厚仪TT240；

• 涂层测厚仪TT260；

• 涂层测厚仪TT270。

涂层测厚仪·探头参数表

探头		F400	F1	F1/90	F10	N1	CN02
工作原理		磁感应				电涡流
测量范围（um）		0-400	0-1250		0-10000	0-1250(铜上镀铬0-40um)	10-200
低限分辨力(um)		0.1	0.1		10	0.1	1
示值误差	一点校准(um)	±[3%H+1]			±[3%H+10]	±[3%H+1.5]	±[3%H+1]
	两点校准(um)	±[(1～3)%H+0.7]	±[(1～3)%H+1]		±[(1～3)%H+10]	±[(1～3)%H+1.5]	-
测量条件	最小曲率半径(mm)	凸 1	凸1.5	平直	10	3	平直
	基体最小面积的直径(mm)	ф3	ф7	ф7	ф40	ф5	ф7
	最小临界厚度(mm)	0.2	0.5	0.5	2	0.3	无限制

涂层测厚仪·探头选择参考表

基体与覆盖层		有机材料等非磁性覆盖层(如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等)		非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)
		覆盖层厚度不超过100µm	覆盖层厚度超过100µm	覆盖层厚度不超过100µm	覆盖层厚度超过100µm
磁性金属如 铁、钢 等	被测面积的直径大于30mm	F400 型测头 0～400µmF1 型测头 0～1250µm	F1 型测头 0～1250µmF10 型测头 0～10mm	F400 型测头 0～400µmF1 型测头 0～1250µm	F1 型测头 0～1250µmF10 型测头 0～10mm
	被测面积的直径小于30mm	F400 型测头 0～400µm	F400 型测头 0～400µmF1 型测头 0～1250µm	F400 型测头 0～400µm	F400 型测头 0～400µmF1 型测头 0～1250µm
有色金属如铜 、铝 、黄铜 、锌 、锡 等	被测面积的直径大于5mm	N1 型测头 0～1250µm		仅用于铜上镀铬N1 型测头 0～40µm
非金属基体塑料、印刷线路	被测面积的直径大于7mm	-	-	CN02 型测头10～200µm

F型（磁感应）：测量钢、铁等铁磁性金属基体上的非磁性涂镀层的厚度，如：油漆、粉末、各种防腐涂层、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、锡、镉等；N型（电涡流）：测量铜、铝、不锈钢等非铁磁性基体上的所有非导电层的厚度，如：油漆、粉末、各种防腐涂层、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、氧化层等；F/NF型：它是以上F型和N型的组合。

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