DZ3320A 差热分析仪 熔点温度分析仪 氧化还原热分析检测仪 DTA

 

 

 

 

 

产品介绍:差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

 

技术参数:1. 温度范围: 室温~1150℃2. 量程范围: 0～±2000μV3. DTA精度: ±0.1μV4. 升温速率: 1～80℃/min5. 温度分辨率: 0.1℃6. 温度准确度: ±0.1℃7. 温度重复性: ±0.1℃8. 温度控制: 升温：程序控制 可根据需要进行参数的调整降温：风冷 程序控制恒温：程序控制 恒温时间任意设定9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作10.气氛控制: 内部程序自动切换11.数据接口: 标准USB接口 配套数据线和操作软件12.显示方式: 24bit色 7寸 LCD触摸屏显示13.参数标准: 配有标准物，带有一键校准功能，用户可自行对温度进行校正14.基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线15.工作电源: AC 220V 50Hz

 

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