DIATEST盲孔塞规式测量仪,DIATEST盲孔测头,DIATEST带表塞规

该量仪属于比对法测量，可快速高效测量孔内几何形状，自定中心，应用范围广，操作简单精度高，结构牢固长寿命，不会划伤工件

DIATEST塞规式测量系统特有的导向体设计，保证了测量结果的可能性，解决了孔径测量的对中难题，最大限度减少了人为因素测量结果的影响，可方便、快速、准确得出测量结果。

测头为非标定制，按图纸及使用要求加工制作！

测头结构		测头参数
1、手柄		测头形式：盲孔
2、显示装置		测量范围：+0.15mm
3、测针		重复精度：0.001mm
4、导向体		线性误差：1%测量行程
5、两瓣体		测点半径：2.0mm
6、测点		测头寿命：可达100万次

导向体根据被测工件制定是BMD测头的精度来源。

测量结果准确可靠不受人为因素影响

可提供刻字服务如客户的特定ID号、公差等

测针通过特殊锥度将测量值进行1:1的比例传递

多种手柄选择，具有隔热功能避免手温影响测量结果

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