影像测量仪 VIEW Benchmark 250 VIEW Mirco三维光学精微测量仪

紧凑型高精度影像测量仪

 

VIEW Benchmark 250影像测量仪可满足你所期望的VIEW Micro-Metrology台式测量机带来的高性能和可靠性。先进的光学、照明、可选配的TTL激光、以及图像处理能力使其成为世界一流的计量系统。   无论是在QA实验室进行首件产品检验，亦或是生产车间精确的测量过程控制，Benchmark 250影像测量仪都能应对自如。

 

特征：

测量范围：300 x 150 x 150 mm25公斤承载力亚微米的光栅尺分辨率平台移动速度X-Y: 150 mm/秒; Z: 100 mm/秒误差映射：在XY平面非线性二维纠错超精密双重放大光学系统可编程多色环形灯(PRL)选项TTL激光选项，具有自动聚焦和扫描功能先进的图像处理性能，快速、精确、稳健双通道，数字式，1.4兆像素的单色相机; 4:1的比例次像素精度： 1/10 - 1/50 pixel强大的测量软件和数据分析工具可供选择平均无故障工作时间 MTBF ≥ 8,000 小时

 

Benchmark的应用范围包括：

 

半导体/电子BGA, μBGA, CSP, 倒装芯片, MCM, bump-on-die引线框，引线接合柔性线路板，连接器SMT元件贴装锡膏/环氧数脂胶点芯片载体和托盒喷墨打印机墨盒光纤组件和MEMs

 

数据存储悬置件滑块和悬臂组(HGA)磁盘介质基板

 

精密注塑和机加工件模具和刀具医疗设备燃料喷射部件手表组件

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