德国菲希尔X射线膜厚仪XDLFISCHERSCOPE174; X-RAY XDL 210//220/230//240

德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE XDL

X射线荧光测试仪，可手动或全自动测量功能性镀层、防腐蚀镀层和大规模生产零部件

 

德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE XDL特点

• 坚固耐用的镀层厚度测量设备，甚至可在较大的距离测量（DCM功能，范围0-80 mm）工作

• 固定光圈和固定滤光镜

• 用于1mm起大小的测量点

• 底部C型开槽的大容量测量舱

• 可编程的台式设备，用于自动测量

• 标准X射线管，比例计数器  

 

德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE XDL典型应用领域

• 测量大规模生产的电镀零件

• 防腐镀层和装饰性镀层，如镍/铜上的铬

• 电镀工业中电镀液的分析

• 黄金、珠宝和钟表工业

 

德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE XDL应用实例：

XDLM测量系统经常用来测量接插件和触点的各种底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/ Ni镀层的厚度。通常功能区都是很小的结构如或突起，测量这些区域必须使用很小的准直器或适合样品形状的准直器。例如测量椭圆形样品时，就要使用开槽的准直器以获得zui大的信号强度。

 

FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM系列与XUL和 XULM系列密切相关：两者都使用相同的接收器， 准直器和滤片组合。配备了标准X射线管和固定准直器的XDL仪器非常适合大工件的测量。

XDLM型号的X射线源采用微聚焦管，可以测量细小的部件，对低辐射组分有较好的激励作用。此外，XDLM配备了可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地为不同的测量应用创造zui佳的激励条件。

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