芯片测试高低温冲击仪 冷热交替冲击试验箱 柳沁科技 LQ-TS-50B

三箱式温度冲击试验箱广泛用于自动化零部件、电子电器零组件、汽车配件、通讯组件、化学材料、金属、塑料行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料经对冷、热温的反复抵拉力及产品处于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量。

试验箱分为热温区、冷温区、测试区三部分，具独特之蓄热蓄冷冲击效果，试验时待测物完全静止，应用冷风路切换打开阀门的方式导入试品中。可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时，可选择二槽或三槽之功能，具有高低温试验机的功能。试验方式：试验时待测物试验箱里静静的摆放着，温度在高温箱及低温箱内受试验条件及控制器指标根据冷热冲击要求通过气体分别把冷热温度带动过来完成交替冲击的试验条件。

三箱式温度冲击试验箱技术参数：

可选择的容积有如下：

50L内箱尺寸为360x350x400(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准

80L内箱尺寸为500x400x400(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准

150L内箱尺寸为600x500x500(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准

250L内箱尺寸为700x600x600(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准

512L内箱尺寸为800x800x800(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准

1000L内箱尺寸为1000x1000x1000(WxHxD)MM外尺寸以实物尺寸为准

温度范围：-40℃～+150℃、-55℃～+150℃、-65℃～+150℃

蓄热箱温度范围：+50℃～+165℃

蓄冷箱温度范围：0℃ ～-75℃

试验箱均匀度：±2℃

设备波动度：±0.5℃

温度冲击速率：3~5min完成

满足

GBT 2423.1-2008电工电子产品环境试验 第2部分试验方法 试验A 低温

GBT 2423.2-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温

GBT 2423.4-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db： 湿热循环.

GBT 2423-3-2006电工电子产品环境试验  恒定湿热

GBT 10592-1989高低温试验箱 技术条件

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