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北京市市辖区
CCD特性研究实验仪 型号:HLD-CCD-II库号:M405160 在文字识别、图形识别、边缘识别等应用中,很多时候需要把图形或信号二值化,其目的是将复杂的图形或信号简单化,以便再作进一步处理。在本实验中我们主要介绍如何运用了二值化的方法测量物体的尺寸,同样在应用CCD测量物体位移或速度的时候也需要进行二值化处理。 技术参数: 1、本仪器由CCD实验仪主机、CCD传感器、镜头和实验导轨等构成; 2、空间分辨率:像素达2000个点、分辨率达几个微米; 3、具有时序输出接口、微机观察二值化输出; 4、A/D转换时,幅度分辨率:1/256(8位量化),图象细腻,无需额外处理; 5、仪器可以用于CCD原理实验、非接触式测量实验。 实验内容: 1、线阵CCD原理及驱动; 2、线阵CCD特性测量实验; 3、线阵CCD输出信号的二值化; 4、线阵CCD的A/D数据采集; 5、利用线阵CCD测量物体尺寸; 重量约10kg左右
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加工定制 : | 否 |
类型 : | CCD特性研究实验仪 |
品牌 : | M405160 |
型号 : | HLD-CCD-II |
重量 : | 0 |
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