现货正品UV-313紫外辐照计 集成电路光刻紫外辐照度测量仪 灿孚

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UV-313型紫外辐照计 

 

         该仪器适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

 

 u     主要性能指标

 

   ※    波长范围及峰值波长：

               UV－313探头：λ：(290～340)nm；λ_P＝313nm

   ※    辐照度测量范围：

               (0.1～199.9×10³)μW/cm²

   ※    紫外带外区杂光：

               UV313：小于0.05％ 

   ※    余弦特性：

               符合国家二级光照度标准

   ※    示值相对误差：

               ±10％

   ※    响应时间：

               1秒

   ※    使用环境：

               温度(0~40)℃；湿度＜85％RH

   ※    尺寸和重量：

               180mm×80mm×36mm；0.2kg

   ※    电源：

               9V积层电池（6F22型）一只

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