菲尼克斯N1.5涂层测厚仪测头现货低价供应 PHOENIX/菲尼克斯

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 涂层测厚仪测头N1.5

Surfix Pro S 专业级测厚仪

 

1.强大数据处理功能.分500组存储1万个测值,特快反应速度

2.同屏显示各统计值，配合7种测头

3.可测铁基体和有色金属基体上的镀层和H缘涂层

4.量程：0~10mm 精度：0.1μm，见测头参数

5.带RS-232接口,背景光 .可连小打印机

6.探头需另选购

Surfix S 可换探头统计型测厚仪

可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层,同屏显示统计数据.可存储前200测值,分辨率0.1μm.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%读数,或范围可达10mm,探头另购

N 1.5测厚仪探头配Surfix Pro S/Surfix S,非磁性测头.适于有色金属基体上的涂层测量:0-1500μm.精度:1μm±1%读值.灿孚小测量面积:￠5mm,尺寸:￠14x83mm.耐表面温度60℃

上海灿孚机电有限公司  品质提供 一年保修 终生维护

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