高频光电导少数载流子寿命测试仪 型号:S810-LT-1B库号:M397453

162000

起订量

≥1台

总供应

22台

所在地

北京市市辖区

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  • 产品属性
  • 高频光电导少数载流子寿命测试仪是参照半导体设备和材料组织SEMI标准(F28-75)及国家标准GB/T1553-1997设计制造。本设备采用高频光电导衰减测量方法,适用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,硅单晶寿命测量ρ≥3Ω·cm,由于对样块体形无严格要求,因此广泛应用于工厂的常规测量。寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及缺陷存在的情况,是单晶质量的重要检测项目。技术参数(1)电阻率测量范围ρ≥3Ω·cm,寿命测试范围:5~10000μs(2)光脉冲发生装置重复频率>25次/s 脉宽≥60μs 光脉冲关断时间<1μs红外光源波长:1.06μm(测量硅单晶),如测量锗单晶寿命需另行配置适当波长的光源。脉冲电源:5A~12A(3)高频源 频率:30MHz 低输出阻抗 输出功率>1W(4) 放大器和检波器频率响应:2Hz~3MHz寿命测试范围:5~10000μs按测量标准对仪器设备的要求,本仪器设备配有:(5)读数方式:可选配载流子寿命专用测试软件系统或专用数字示波器读数,软件系统测试操作简单,点击“测量”即可,自动保存数据及相应测试点衰减波形到数据库,可进行查询历史数据和导出历史数据等操作。

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    加工定制 :
    类型 : 寿命测试仪
    品牌 : M397453
    型号 : S810-LT-1B
    寿命测试范围 : 5~10000μs
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