薄膜介电常数测试仪，薄膜介电常数介质损耗测试仪，北京航天纵横

一、概述：

   ZJD-B/ZJD-C/ZJD-A是北京航天纵横检测仪器有限公司新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，0高频率达160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。电容、电感、Q值、频率、量程都采用数字化指示，读数精确,频率值可任意设置。在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。薄膜介电常数测试仪特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和电感值等其它参数。薄膜介电常数测试仪Q值量程可手动或自动转换。

二、特点：

双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。

双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。

双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。

自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。

全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。

DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。

计算机自动修正技术和测试回路0优化 —使测试回路 残余电感减至0低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。

电感测试时，设备自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能，提高了电感值（特别是小电感值）测量的精度。此功能为北京航天纵横公司生产的Q表。大电容值直接测量显示功能，电容值直接测量值可达2.5uF（配100uH电感时）。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京航天纵横公司生产的Q表。

三、技术参数见下表：

功能名称：	ZJD-B	ZJD-A	ZJD-C
信号源范围DDS数字合成信号	10KHZ-70MHz	10KHZ-110MHz	100KHZ-160MHz
信号源频率覆盖比	7000:1	11000:1	1600:1
信号源频率精度 6位有效数	3×10-5 ±1个字	3×10-5 ±1个字	3×10-5 ±1个字
Q测量范围	1-1000自动/手动量程	1-1000自动/手动量程	1-1000自动/手动量程
Q分辨率	4位有效数,分辨率0.1	4位有效数,分辨率0.1	4位有效数,分辨率0.1
Q测量工作误差	<5%	<5%	<5%
电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH	1nH-8.4H , 分辨率0.1nH	1nH-8.4H  分辨率0.1nH	1nH-140mH分辨率0.1nH
电感测量误差	<5%	<5%	<5%
调谐电容	主电容30-500pF	主电容30-500pF	主电容17-240pF
电容直接测量范围	1pF～2.5uF	1pF～2.5uF	1pF～25nF
调谐电容误差 分辨率	±1 pF或<1% 0.1pF	±1 pF或<1% 0.1pF	±1 pF或<1% 0.1pF
谐振点搜索	自动扫描	自动扫描	自动扫描
Q合格预置范围	5-1000声光提示	5-1000声光提示	5-1000声光提示
Q量程切换	自动/手动	自动/手动	自动/手动
LCD显示参数	F，L，C，Q，Lt，Ct波段等	F，L，C，Q，Lt，Ct波段等	F，L，C，Q，Lt，Ct波段等
自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能	有	有	有
大电容值直接测量显示功能	测量值可达2.5uF	测量值可达2.5uF	测量值可达25nF

 

一、产品介绍:   ZJD系列介电常数测量仪是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质。ZJD系列介电常数测量仪通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。二、应用范围：测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（介质损耗角正切值）三、技术参数：

序号	项目	参数
1	信号源	DDS数字合成 10KHZ-70MHz
2	调谐电容	主电容30-500PF
3	调谐电容误差和分辨率	±1.5P或<1%< p="">
4	Q测量范围	1-1000自动/手动量程
5	Q测量工作误差	<5%< p="">
6	Q分辨率	4位有效数，分辨率0.1

四、独有技术：仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置，直接读值。五、参照标准：GB/T 1693-2007、ASTM D150-11、GB/T1409-2006、GBT5594.4-2015

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