台式X荧光镀层测厚仪X-Strata920

260000

起订量

≥1台

总供应

99台

所在地

山东省青岛市

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  • 产品属性
  •  

    一、仪器名称:台式X荧光镀层测厚仪X-Strata920

    二、仪器型号:X-Strata920

    三、生产厂家:日立分析仪器

    四、产地:德国

    山东总代:青岛浩正科仪智能技术有限公司 hzzn-qd 15-2。53,20。13-71

    五、仪器简单介绍

    X-Strata920XRF ,镀层测厚仪,高精确度,少浪费

    若不足一微米在您的镀层测量业务成败中举足轻重,则请选择X-Strata920。

    您可选择比例计数器或硅漂移探测器(SDD),确保拥有正确配置。

    如果您从事电子或金属表面处理,我们可提供适合您业务的解决方案。X-Strata920提供多种配置,可分析单层和多层镀层(包括合金层)。

    我们的内部应用专家对X-Strata920进行了优化,确保您获得可靠、可重复结果以满足百种应用,包括:PCB表面处理、连接器镀层、耐腐蚀性处理、装饰表面处理、耐磨损处理和耐高温处理等。

    山东总代:青岛浩正科仪智能技术有限公司 hzzn-qd 15-2。53,20。13-71

    六、 仪器选型

    半自动固定样品台:

    ØZ轴自动控制,移动行程:43mm (1.7")XY轴手动控制

    Ø样品台高度固定,测量大样品高度33mm

    Ø仪器外形尺寸(宽××高):407×770×305mm(不含电脑和显示器)

    半自动加深样品台

    ØZ轴自动控制,移动行程:43mm (1.7")XY轴手动控制

    Ø样品仓抽屉式设计,4个位置上下可调,每格高度25.4mm

    Ø大样品高度160mm

    Ø样品仓内部尺寸(宽××高):279×508×152mm

    Ø仪器外形尺寸(宽××高):407×770×400mm(不含电脑和显示器)

    Ø自定义样品台:依据客户要求提供更高的样品台,满足高度大于160mm的样品测量,仓内抽屉式设计,多个位置上下可调,每格高度25.4mm

    全自动样品台

    ØZ轴自动控制,移动行程:43mm (1.7")XY轴自动控制

    Ø可提供对样品的自动和编程控制,多点测量

    Ø鼠标控制样品台移动,精确地定位样品测量点

    Ø测量模式:随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式

    Ø样品台移动行程:178×178mm

    Ø样品台尺寸:宽610×560mm

    Ø大样品高度33mm

    Ø仪器外形尺寸:宽610×1037×375mm(不含电脑和显示器)

    多种型号规格的准直器

    圆形0.2mm(8mil)

    矩形0.05*0.05mm(2*2mil)

    矩形0.05*0.25mm(2*10mil)

    Ø单准直器组件;

    Ø多准直器自动控制组件:多可同时装配6种规格的准直器;

    Ø圆形、矩形多种规格尺寸任选(红色常用)

    圆形

    mil

    4

    6

    8

    12

    13

    20

    mm

    0.102

    0.152

    0.203

    0.305

    0.33

    0.508

    矩形

    mil

    1x2

    2x2

    0.5x10

    1x10

    2x10

    4x16

    mm

    0.025x0.05

    0.05x0.05

    0.013x0.254

    0.254x0.254

    0.051x0.254

    0.102x0.406

     

    七、仪器特点

    Ø测量元素范围:钛Ti22---U92

    Ø测量5层(4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X射线重叠谱线;

    Ø测量精度高、稳定性好,测量结果精确至μin

    Ø快速无损测量,测量时间短,10秒内得出测量结果;

    Ø可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析;

    Ø进行贵金属检测,如Au karat评价;

    Ø材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析;

    Ø强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、大值、小值、数据变动范围、数据编号、CPCPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图;

    Ø结果输出:直接打印或一键导出到PDFExcel文件;报告包含数据、图像、统计图表、ke户信息等;

    Ø测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30倍;

    Ø激光对焦和自动对焦功能;单击鼠标,Z轴自动扫描,镭射聚焦

    Ø拥有NIST认证的标准片;

    Ø提供全球服务及技术支持。

     

    X-Strata920三步即可获得测量结果

    1 将产品放置在样品台上

    Ø无损分析,无需样品制备

    Ø开槽式样品仓便于放置产品

    Ø超大样品台便于大面积产品(如:PCB)测量

    Ø配备了门开闭传感器,增强了安全性

    2 一键完成视频聚焦

    Ø一键自动镭射聚焦,避免人为操作误差

    Ø标配固定焦距12.7mm,选配变焦

    Ø高分辨率、高放大倍率的彩色数码影像装置,画面清晰、测试点精准定位;放大倍数:30倍(标配),50倍(选配)

    Ø自动台:利用可编程XY样品台和Z轴实现单次或多次分析操作

    Ø简单快速的多点分析

    3 一键完成测量

    Ø几秒内显示结果

    Ø保存、打印或传输结果

    Ø测试结果可一键导出PDF(标配)、Excel(选配)

    Ø使用预置和客户自定义的报告模板

    山东总代:青岛浩正科仪智能技术有限公司 hzzn-qd 15-2。53,20。13-71

     

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    品牌 : 日立分析仪器
    型号 : X-Strata920
    加工定制 :
    产品用途 : 镀层厚度检测
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