MiniTest 725涂层测厚仪 MiniTest735膜厚仪 MiniTest 745测厚仪

16800

1台

12800

2台

9800

≥3台

起订量

≥1台

总供应

200台

所在地

上海市市辖区

  • 图文详情
  • 产品属性
  • MINITEST 725/735/745涂层测厚仪技术数据表 SIDSP探头

    探头 特性

    F1.5,N0.7,FN1.5

    F2

    F5,N2.5,FN5

    F15

    F

    N

    F

    F

    N

    F

    测量范围

    0-1.5mm

    0-0.7mm

    0-2mm

    0-5mm

    0-2.5mm

    0-15mm

    使用范围

    小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用

    粗糙表面

    标准探头,使用广泛

    厚涂层

    测量原理

    磁感应

    电涡流

    磁感应

    磁感应

    电涡流

    磁感应

    信号处理

    探头内部32位信号处理(SIDSP)

    精确度

    ±(1μm+0.75%读值)

    ±(1.5μm+0.75%读值)

    ±(5μm+0.75%读值)

    重复性

    ±(0.5μm+0.5%读值)

    ±(0.8μm+0.5%读值)

    ±(2.5μm+0.5%读值)

    低端分辨率

    0.05μm

    0.1μm

    1μm

    小曲率半径(凸)

    1.0mm

    1.5mm

    5mm

    小曲率半径(凹,外置探头)

    7.5mm

    10mm

    25mm

    小曲率半径(凹,内置探头)

    30mm

    30mm

    30mm

    小测量面积

    Φ5mm

    Φ10mm

    Φ25mm

    小基体厚度

    0.3mm

    40μm

    0.5mm

    0.5mm

    40μm

    1mm

    连续模式下测量速度

    每秒20个读数

    单值模式下 大测量速度

    每分钟70个读数

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    加工定制 :
    品牌 : 德国EPK
    型号 : MiniTest 725涂层测厚仪
    测量范围 : 0-5000um
    测定对象 : 涂镀层测厚
    测量精度 : 见参数
    分辨率 : 见说明
    电源 : DC
    尺寸 : 157mmx75.5mmx49m
    重量 : 175g
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