包装膜袋 包装材料厚度测定仪 三泉中石 包装膜测厚仪 配件

 

包装膜袋 包装材料厚度测定仪 三泉中石 包装膜测厚仪

薄膜的厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离，而实际上，薄膜的表面是不平整，不连续的，且薄膜内部存在着针孔、微裂纹、纤维丝、杂质、晶格缺陷和表面吸附分子等。因此薄膜的厚度大至可以分成三类：形状厚度，质量厚度，物性厚度。形状厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离；质量厚度指的是薄膜的质量除以薄膜的面积得的厚度，也可以是单位面积所具有的质量（g/cm2）；物性厚度指的是根据薄膜材料的物理性质的测量，通过一定的对应关系计算而得到的厚度。

当今微电子薄膜，光学薄膜，抗氧化薄膜，巨磁电阻薄膜，高温超导薄膜等在工业生产和人类生活中的不断应用，在工业生产的薄膜，其厚度是一个非常重要的参数，直接关系到该薄膜材料能否正常工作。

除此之外，薄膜材料的力学性能，透光性能，磁性能，热导率，表面结构等都与厚度有着密切的联系。

济南三泉中石生产的CHY-U包装膜袋厚度测定仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度准确测量，误差小，操作简单方便。

技术特征 

1.配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果 ；

2.打印数值及每次测量结果，方便用户分析数据 ；

3.仪器自动保存达100组测试结果，随时查看并打印 ；

4.标准量块标定,方便用户快速标定设备 ；

5.配备自动进样器，可一键实现全自动多点测量，误差小 ；

6.提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户； 

7.配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输。

技术参数               

测量范围 ：0-2mm （其他量程可定制）               

分辨率 ：0.1um               

测量速度 ： 10次/min（可调）               

测量压力 ：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）               

接触面积 ：50mm²（薄膜），200mm²（纸张） 注：薄膜、纸张任选一种               

进样步矩 ： 0 ～ 1300 mm(可调)               

进样速度 ： 0 ～ 120 mm/s(可调)               

机器尺寸： 450mm×340mm×390mm (长宽高)               

重    量： 23Kg               

工作温度：15℃-50℃                    

试验环境：无震动，无电磁干扰              

工作电源：220V 50Hz

参照标准

GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817       

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