柳沁科技 LQ-TS-50B 电子器件高低温冲击试验箱 冷热冲击试箱厂家

 电子器件高低温冲击试验箱是一样的意思,针对的是同一类同一标准的试验箱,此类试验箱是提供给电子器件在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在*短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。本试验箱不仅适合电子器件使用,还是光电、金属、塑料、LED、橡胶、电子等工业材料行业必备的试验设备，结构分为两箱式和三箱式，区别在于试验方式和内部结构不同，产品符合标准为：GB-T10592-2008、GB/T2423.2-2008试验B、GB/T2423.1-2008试验A 、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。

电子器件高低温冲击试验箱技术参数:

 

1.内箱尺寸*小：W350mm*H400mm*D350mm(本公司还有众多标准尺寸可选择,也可定制非标尺寸）

 

2.外箱尺寸：以实际尺寸为标准。

 

3.高温槽预热温度范围：+60℃～200℃；

 

4.升温时间： +60℃～200℃≤30min；

 

5.低温槽预冷温度范围： -75～-10℃；

 

6.降温时间： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降温时间为低温槽单独运转时的性能﹚

 

7.试验方式： 气动风门切换

 

8.温度冲击范围： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚

 

9.温度偏差： ±2.0℃

 

10.温度波动度： ±0.5℃

 

11温度恢复时间： ≤5分钟

 

12.试样限制：本实验设备禁止易爆、易燃、易挥发性物质试样的试验或储存；腐蚀性物质试样的试验或储存；

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