¥1350
1-4台
¥1300
≥5台
起订量
≥1台
总供应
100台
所在地
上海市市辖区
CSK-IA和CSK-IB试块的主要用途
该试块主要用于测定探伤仪、探头及的组合性能
两个试块的主要区别在于:CSK-IB试块在原有CSK-IA的基础上增加了测试斜探头折射角的刻度面。使用要点:1)利用厚度25mm测定探伤仪的水平线性、垂直线性和动态范围;2)利用厚度25mm和高度100mm调整纵波探测范围;3)利用R50和R100校定时基线或测定斜探头的入射点;4)利用高度85、91、100ram测定直探头的分辨力;5)利用中40、中44、中50ram曲面测定斜探头的分辨力;6)利用中50有机玻璃圆孔测定直探头盲区和穿透能力;7)利用中50曲面和巾1.5横孔测定斜探头的K值;8)利用高度9lmm(纵波声程9lmm相当于横波50mm)调节横波1:1扫描速度,配合R100作零位校正;9)、利用试块直角棱边测定斜探头的声轴偏斜角。CSK-IA超声波探伤标准试块
CSK-1B试块校准斜探头的步骤
1.输入材料声速:3230m/s 2. 探头前沿校准 (1)如图1所示,将探头放在CSK-1B标准试块的0位上
2.前后探头,使试块R100圆弧面的回波幅度*高,回波幅度不要超出屏幕,否则需要减小增益。
3.当回波幅度达到*高时,保持探头不动,在与试块“0”刻度对应的探头侧面作好标记,这点就是波束的入射点,从探头刻度尺上直接读出试块“0”刻度所对应的刻度值,即为探头的前沿值。(或用刻度尺测量图1所示L值,前沿x=100-L。), 将探头前沿值输入“探头”功能内的“探头前沿”中,探头前沿测定完毕。
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加工定制 : | 是 |
类型 : | 超声波探伤对比试块 |
品牌 : | CSK |
型号 : | CSK-IB ZB |
计量单位 : | 块 |
材质 : | 20#钢 |
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