美国TSI 3910 纳米颗粒粒径谱仪

美国TSI 3910 纳米颗粒粒径谱仪由于它使用简单，重量轻，电池供电等特点，使低成本的实时纳米粒径测量成为可能。

 

美国TSI 3910 纳米颗粒粒径谱仪  产品简介

TSI 3910型NanoScan SMPS打开纳米颗粒粒径常规测量的大门。这一革命性的粒径谱仪将TSI公司的SMPS™粒径谱仪集成在约一个篮球大小的便携箱内。容易使用，重量轻，电池供电等优点使NanoScan SMPS让研究人员多点采集纳米颗粒粒径分布数据成为可能。由TSI核心技术中衍生而来，NanoScan SMPS是一个的，低成本的实时纳米粒径测量的有效解决方案。

 

美国TSI 3910 纳米颗粒粒径谱仪 产品参数测量模式：扫描 一 粒度分布            单颗粒 一 单一粒径颗粒浓度监测粒径范围：10至420纳米粒径通道：13测量时间：60秒(45秒上扫．1 5秒回扫)，  

粒度分布：1秒，单一粒径技术模式粒子浓度：<1,000，000个/cm3流量    ：0.8±5%，进口：0.25±5%．样品冷凝液  ：分析纯（99.5%或更高）：异丙纯注液系统：溶液机芯（≤6小时运作）：可选外置瓶零点计数： ≤0.01个，数据存储选项：3—8天，内置存储器，可选USB存储驱动器显示： 彩色触摸屏通信： USB预热时间：<15分钟真空源：内置尺寸（长宽高）：45厘米×23厘米x 39厘米

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