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美国TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪 产品简介
TSI3330型光学颗粒物粒径谱仪简单轻便,能够对颗粒物浓度和粒径谱分布进行快速和准确的测量。基于TSI40年气溶胶仪器设计的经验,
本款产品使用120度光散射角收集散射光强度和的电子处理系统,从而得到高质量和高精度的数据。
同时,TSI工厂严格的标定标准也确保仪器的精性。3330不仅可以单独使用,而且还可以放入TSI的外场环境箱中在野外使用。
美国TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪 产品特点:
0.5微米时粒径分辨率小于5%
粒径通道用户可调
检测粒径范围:0.3-10微米,很多16通道
颗粒物粒径感应范围:0.5至25 mm
检测浓度范围:0-3000 个 /cm3
彩色触摸屏,直观的用户界面
完全满足ISO 21501-01/04要求
输入折射率和密度可以同时显示颗粒物数浓度和质量浓度
收集的采样膜可进行称重测量和化学分析
电池电量可供20小时的操作
很多可存储30000个数据
记录每个样品的温度和压力
美国TSI 3330光学颗粒物粒径谱仪 技术参数
测量原则 :120°光散射和滤膜采样浓度限制:很高3,000个/ cm3 (3,000,000个/L)质量浓度 :0.001-275,000 mg/m3颗粒物粒径:检测粒径范围:0.3-10 mm 粒径分辨率:0.5mm时5%(符合ISO 21501-01/04)粒径通道 :很多16通道,用户可调
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加工定制 : | 否 |
类型 : | 光学颗粒物粒径谱仪 |
品牌 : | 美国TSI |
型号 : | TSI 3330 |
可售地 : | 全国 |
检测粒径范围 : | 0.3-10 mm |
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