光学膜厚控制仪 型号:MN666-GM-X03库号：M12664 其他

光学膜厚控制仪 型号:MN666-GM-X03

库号：M12664

真空镀膜，膜厚控制仪

本仪器是相位锁定放大器，用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道，参考信号通道和四阶低Q滤波技术组成，有很强的谐波抑制能力和动态储备，能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位。

采用进品高元件制作和DAAS是数字频谱分析系统测试，确保仪器具有的质量和的性能。

高稳定性。操作简便，实用性强

技术参数：

GM-X03

主信号通道：电压单端输入

满程灵敏度：0.5mV~500mV

频率范围：1KHz,±5%

锁相噪声：≦4nV

线性误差：≦1%

零点漂移：0.2%（小时）

参考信号通道：电压单端输入

输入幅度：20mV~700mV

频率范围：1KHz,±5%

相位锁定范围：≧320°

电源电压：220VAC/50Hz

外形尺寸：宽482x高89x深322（mm）/标准2U面板

净重：7.5Kg

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