开关打击寿命测试仪 键盘开关打击测试仪 单轴多轴三轴按键寿命测试仪OM-8920E欧美奥兰

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主要适用于普通电脑键盘、手提电脑键盘也适用於手机、摇控器等产品的检测，同时可测试Notebook、手机、PDA之按键及各种按钮、开关之耐久寿命试验。可同时测试数个产品（每个均可多点测试）。

采用先进的PLC触膜屏控制键盘打击寿命试验全过程。具有速度可调，行程可调，次数任一设定；到达次数或断电停机后保持数据。并搭配高精度电机进行检测；可实现高速度、高精度下计算器产品的打击寿命测试。

二、主要规格参数：

动作行程	10mm
工件高低调整范围	100mm
体积约	680mm*485mm*160mm（L*M*H）
试验次数	999999999（PLC控制程序，位数可随意设定最多9位）
试验速度	0-150Rpm/min
电压	AC220V
重量	240KG

 三、本机与同类产品相比的几大特性如下：

从而大大的缩短了新产品的投产周期；

●7英寸超大触摸屏PLC系统控制；

●测头高低及力量大小可调；

●两支测头X.Y方向间隔小，不仅适用於普通电脑键盘、手提电脑键盘也适用於手机、摇控器等产品的检测；

●运行平稳、无振动；

●测试点由同类产品的最多18个提升为110个以上；

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