涂层测厚仪 型号:JK770-LS236 库号：D387439

涂层测厚仪 型号:JK770-LS236

库号：D387439 

参数

显示屏

液晶屏+OLED耐低温屏

主机尺寸100* 60* 24mm

重量(含电池)80g

测头

红宝石

测量原理

Fe:霍尔效应/NFe:电涡流效应

探头类型

内置-体式

测量范围

0.0um - 2000μm

0.1μm: (0um-99.9μm)

分辨率

1μm: (100μm- 999μm)

0.01mm: (1.00mm-2.00mm)

测量精度

≤土(39%读数+2μm)

单位.

μm/ mil

测量间隔

0.5S

小测量区域

0=25mm

小曲率半径

凸面: 5mm/凹面: 25mm

小基体厚度

Fe: 0.2mm/NFe: 0.05mm

供电方式

2节1.5V AAA碱性电池

工作温度范围

-20°C~50°C

-40°C~50°C

储存温度范围

-20°C~60°C

-50°C~60°C

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