光干涉式CH4测定器校准仪 型号:ZX72-SH-2库号：M403603 其他

光干涉式CH4测定器校准仪 型号:ZX72-SH-2

库号：M403603 

SH-2型光干涉式CH4测定器校准仪校准光干涉式CH4测定器所依据的原理是压力校准法原理。压力校准法是校准光干涉式CH4烷测定器的一种普遍采用的方法，这种校准方法比起其它校准方法有更充足的实验和理论依据，并且具有设备简单、操作方便、校准准确度高等优点。压力校准法原理为：光干涉式CH4测定器的气室组组件中有气样室和空气室两个气室，两个气室因压力差别而产生的折射率差别与两个气室间因气体种类不同而产生的折射率差别有一一对应的关系，依此原理，可通过施加压力的办法对光干涉式CH4测定器进行校准。其理论计算公式为：

P＝1.7665×(273+t)X

式中:

P-在校准环境温度t时,对应CH4浓度X%CH4校准点的压力值,(KPa)；

t－校准时的环境温度，（℃）；

X－校准点CH4浓度值，（%CH4/Air）。

主要技术指标

1、量程范围：0kPa～60 kPa；

2、显示位数：5位LED；

3、工作环境温度：10～40℃；

4、电源：AC220V±10%，50HZ；

5、外形尺寸：400㎜×240㎜×300㎜；

6、重量：5㎏。

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