数字集成电路多值逻辑测试仪 型号:VV522-Simi100库号：M264585

数字集成电路多值逻辑测试仪 型号:VV522-Simi100库号：M264585 数字集成电路多值逻辑测试仪 ◆利用的多值比较法对器件进行快 速的参数和功能综合测试。◆ 用户可按不 同的要求选择测试模式，对器件进行直 流参数测试。以区分IC品质，快速分选。 实用。经该产品测试过的器件，可 以放心地上机使用，解决产品质量 问题。◆数字IC功能参数测试仪。操 作简便，测试成本低廉，实用。 产品主要性能: 在功能测试的基础上 测试器件的输人端注人电流。 测试器件的输人端交叉漏电流。 测试器件的输出端“三态”及“OC"门。 测试器件的输出负载电流。 测试器件的功耗电流。 查找未知芯片型号。 可以单次测试，也可以循环测试. 可自动识别74系列中的CMOS器件 (如: 74C、74HC、74HCT等)。 当被测芯片被确认为74系列CMOS器件时，仪器将自动地对其进行测试并在显示屏前显示一一个“C”字(此时被测器件电 源为TTL电源)。 本产品所提供的多值测试参数: 8种可选择的测试电源。 根据不同材料的IC设置多种输入端注入电流。 多种测试电压比较值。 功耗测试。 以上参数的不同组合构成不同的测试模式，其中包括用户自定义模式及全组合测试模式。 测试模式: 模式O:全组合参数测试。 模式1-C:操作与模式0相同，但各有其不同的测试参数数值。 模式D:任选输人负载电流及测试电源和输人电流测试。 模式E:自检。内容包括计算机部分，显示、键盘及测试管脚电路。 模式F:自编程测试。 测试范围及测试品种: 54系列; 4500 系列; RAM 256K bit 74系列; 40000 系列: EPROM 64K bit 4000系列: C0O系列。 光耦 目前市场上所见到的某些功能测试仪无法对IC器件进行直流参数测试和比较，因此会把74LS373与74LS374、74LS352、 74LS353、74LS125 与74LS32及OC门与图腾柱输出]等功能性能特性完全不致的器件混为一类。 这种仪器实用价值很低， 用仪器测试通过后，有时上机却不能正常使用。本产品不会发生类似错误。 该产品适合器件厂、整机厂作器件测试筛选之用，也适合科研、学校、、IC 经销商使用。它是科技工程 技术人员开发新产品的得力工具。

搜好货厂家北京中西华大科技有限公司为您提供数字集成电路多值逻辑测试仪 型号:VV522-Simi100库号：M264585的详细产品价格、产品图片等产品介绍信息，您可以直接联系厂家获取数字集成电路多值逻辑测试仪 型号:VV522-Simi100库号：M264585的具体资料，联系时请说明是在搜好货网看到的。