台式硅酸根分析仪 型号:XN84GXF-215C 库号：M183834

台式硅酸根分析仪  型号:XN84GXF-215C

库号：M183834 

技术参数

测量范围 0~199.9μg/LSiO2

基本误差≤±2.5%FS

重复性误差≤±0.5%FS

短期漂移（30分钟） ： ≤±0.5%FS

长期漂移(24小时） ： ≤±2.5%FS

化学方法 ：硅钼兰光度法GB 12150—89

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