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上海市市辖区
仪器简介: 差热分析仪是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。
差热分析仪技术参数: 1. 温度范围: 室温~1550℃ 2. 量程范围: 0~±2000μV 3. 升温速率: 0.1~80℃/min4. 温度分辨率: 0.01℃5. 温度重复性: ±0.1℃6. DTA精度: 0.01μV 7. 控温方式: 升温:程序控制 可根据需要进行参数的调整 恒温:程序控制 恒温时间任意设定8. 曲线扫描: 升温扫描9. 气氛控制: 仪器自动切换10. 气体流量:0-200mL/min 11. 气体压力:0.2MPa12. 显示方式:24bit色 7寸LCD触摸屏显示13. 数据接口: 标准USB接口14. 参数标准: 配有标准物质,带有一键校准功能,用户可自行校正温度和热焓15. 工作电源: AC 220V 50Hz或定制16. 功率:600W差热分析仪主要特点:1. 全新全封闭式高级陶瓷炉体设计结构,大大提升灵敏度和分辨率以及更好的基线稳定性。 2. 采用进口合金传感器,更抗腐蚀,抗氧化,传感器灵敏度高。3. 采用Cortex-M3内核ARM控制器,运算处理速度更快,温度控制更精确。4. 采用USB双向通讯,完全实现智能化操作。5. 采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏,实时显示仪器的状态和数据。6. 智能化软件设计,仪器全程自动绘图,软件可实现各种数据处理,如热焓的计算、玻璃化转变温度、氧化诱导期、物质的熔点及结晶等等。
差热分析仪用途: 主要测量与热量有关的物理、化学变化,如物质的熔点、熔化热、结晶与结晶热、相变反应热、热稳定性(氧化诱导期)、玻璃化转变温度、氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
差热分析仪参考标准:GB/T 19466.2 – 2004 / ISO 11357-2: 1999第2部分:玻璃化转变温度的测定;GB/T 19466.3 – 2004 / ISO 11357-3: 1999第3部分:熔融和结晶温度及热焓的测定;GB /T 19466.6- 2009/ISO 11357-3 :1999 第6部分氧化诱导期 氧化诱导时间(等温OIT)和氧化诱导温度(动要态OIT)的测定。
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加工定制 : | 是 |
品牌 : | 准权 |
型号 : | DTA-1550 |
测量范围 : | 0~±2000μV |
测量精度 : | 0.01μV |
分辨率 : | 0.01℃ |
电源电压 : | AC 220V 50Hz或定制 |
用途 : | 测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的 |
温度范围 : | 室温~1550℃ |
升温速率 : | 0.1~80℃/min |
温度重复性 : | ±0.1℃ |
曲线扫描 : | 升温扫描 |
气氛控制 : | 仪器自动切换 |
气体流量 : | 0-200mL/min |
气体压力 : | 0.2MPa |
数据接口 : | 标准USB接口 |
功率 : | 600W |
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