X-Ray膜厚测试仪 高精度激光自动定位 电脑操作无损测试

EDX2000A全自动微区膜厚测试仪 是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光膜厚测量技术，专.门研发的一款上照式膜厚测试仪。相比于传统的镀层测厚设备，不仅在常规的传统电镀上表现更加优.异，更能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。仪器外观简洁大方，通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统，实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精.准分析。

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