EXFO WA-1100 WA-1500 光波长计 测试测量仪器

产品简介：

Burleigh WA-1100光波长计采用基于迈克尔逊干涉计的W 波长计技术，通过将被测光信号的干涉条纹图与内置的HeNe激光波长标准相比较，

确定被测光信号的波长。

范围:700 - 1650 nm (181 - 428 THz)。

准确度:±1.5 pm。

显示分辨率:0.001 nm。

准确度:±0.5 dB(1310和1550 nm处±30 nm处)。

功率分辨率:0.01 dB。功率线性:±0.3 dB。

功率显示分辨率:0.01 dB。

光学输入信号灵敏度:-30 dBm(0.1圀),1200 - 1600海里;-20年dBm(1.0圀),700 - 1650 nm。

输入电平(所有线路的总和):+ 10 dBm (10 mW)。

测量周期:0.1秒(10次/秒)。

仪器接口:GPIB (IEEE-488.2)， RS-232, LabVIEW, LabWindows

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