【半导体模块全动态测试系统】价格_批发_厂家_参数_图片_参数测量仪

图文详情

产品属性

系统概述：

本设备适用于模块及平板型晶闸管及整流管断态电压临界上升率、通态峰值电压、关断时间、恢复电荷以及反向恢复电流和反向恢复时间的测量。本设备符合国家JB/T 7626-2013标准〖反向阻断三极晶闸管〗测试方法。

系统单元：

电流上升率	di/dt
关断时间	Turn off time
恢复电荷	Recovery charge
示波器	Oscilloscope
计算机单元	Computer unit
反向恢复电流	Reverse recovery current
反向恢复时间	Reverse recovery time
接口切换单元	Interface switching unit
自动恒温压力夹具	Automatic thermostatic pressure clamp
断态电压临界上升率测试单元	Off-state voltage critical rise rate test unit

参数指标：

断态电压临界上升率测试单元

断态电压测试范围：500-4000V、分辨率、1V精度±5%；

电压过冲范围：500-4000V：+10%；（800V以下时按dv/dt=500V/μS验收）

电压上升率：200V/μS、500 V/μS、1000V/μS、1500 V/μS、 2000V/μS共5档，精度±10%

按模拟负载为 2.2nF电容器校准；准线性电压上升率/

测试频率：单次

关断时间测试单元

通态电流测试范围：200A-3000A 分辨率：1A 精度±5%；

工作频率： 0.2-0.5Hz；关断时间测试范围：5-1500µs；

通态电流脉冲底宽: ≥4ms；

反向电压：50-200V连续可调，分辨率 1V；精度±5%；

再加电压范围：500V-4000V，分辨率 1V；精度±5%；

再加电压上升率e：分为 30V/µs、100V/µs、300V/µs三档,精度±10%；

电流下降率：分为 10A/µs、20A/µs两档，精度±20%；

恢复电荷、反向恢复电流、反向恢复时间测试单元

通态电流测试范围：200A-3000A 分辨率：1A 精度±5%；

工作频率：0.2-0.5Hz；

通态电流脉冲底宽: ≥4ms；

反向电压：50-200V连续可调，分辨率 1V；精度±5%；

恢复电荷测试范围：500-20000µs；精度±50µs±5%；

电流下降率：分为 10A/µs、20A/µs两档，精度±20%；

可测试反向恢复时间trr、反向恢复电流IR；

自动恒温压力夹具

工作方式：气动；

压力范围：10-200kN；分辨率 0.1kN；精度±5%±1kN；

温度控制精度范围:70-150℃，分辨率 0.1℃，精度±1.5℃；

夹头耐压：夹头对机壳耐压: 峰值10k0V，1 分钟；

加热体对夹头耐压：峰值10kV，1 分钟；

夹头行程： ≥80mm；台面直径: 大于Ф130mm；

夹头最大工作电流： 10kA(峰值、底宽 10mS、工作频率≤5Hz )；

夹头表面平面度≤20µs；导柱间跨距：≮260mm；

搜好货厂家西安智盈电气科技有限公司为您提供半导体模块全动态测试系统的详细产品价格、产品图片等产品介绍信息，您可以直接联系厂家获取半导体模块全动态测试系统的具体资料，联系时请说明是在搜好货网看到的。

半导体模块全动态测试系统